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扫描电子显微镜（SEM）是一种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的高精度观察手段，它利用聚焦的高能电子束来扫描样品，通过收集和分析光束与物质相互作用产生的各种物理信息，如二次电子、背散射电子等，将这些信息转换为图像，从而实现对物质微观形貌的表征。